检测报告

硅单晶检测报告检测哪些项目？检测标准有哪些？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。我们只做真实检测。

检测项目：

部分参数、少数载流子寿命、氧含量、表面金属、全部参数、碳含量、晶体完整性、直径、晶向及晶向偏离度、径向电阻率变化、电阻率、导电类型、部分项目、晶向、直径及允许误差、弯曲度、翘曲度、氧化诱生缺陷、表面质量、厚度和总厚度变化、厚度与总厚度变化、微管密度、晶型、表面粗糙度、晶向及晶向离度、全部项目、硅单晶电阻率标准样片检定校准、主参考面晶向

检测标准：

1、GB/T 12965-2005 《硅单晶切割片和研磨片》

2、GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

3、SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度检测方法 5. 原子力显微镜法

4、GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径检测方法

5、GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法

6、GB/T 25076-2018 太阳电池用硅单晶 6.2

7、GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化检测方法 GB/T 30867-2014

8、SEMI PV43-0113 太阳能电池用硅材料中氧含量的检测 惰性气体熔融红外法

9、JJF 1760 硅单晶电阻率标准样片校准规范

10、GB/T12962-2015 硅单晶

11、GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法

12、GB/T12965-2018 硅单晶切割片和研磨片

13、GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型检测方法

14、SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的检测方法 SJ/T 11503-2015

15、GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

16、GB/T 12964-2003 直径

17、GB/T12964-2018 硅单晶抛光片

18、SJ/T11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的检测方法

19、GB/T 12962-2015 硅单晶

20、GB/T 12965-2018 硅单晶切割片和研磨片

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

检测费用价格

因检测项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程

温馨提示：以上内容仅供参考，更多检测相关信息请咨询客服。