检测报告

半导体试验如何办理?半导体试验检测项目及标准有哪些?百检检测可为您提供材料等相关检测服务。

半导体试验标准:

GB/T249-2017半导体分立器件型号命名方法

GB/T1550-2018非本征半导体材料导电类型检测方法

GB/T1555-2009半导体单晶晶向测定方法

GB/T2900.32-1994电工术语电力半导体器件

GB/T2900.66-2004电工术语半导体器件和集成电路

GB/T3430-1989半导体集成电路型号命名方法

GB/T3431.2-1986半导体集成电路文字符号引出端功能符号

GB/T3436-1996半导体集成电路运算放大器系列和品种

GB/T3859.1-2013半导体变流器通用要求和电网换相变流器第1-1部分：基本要求规范

GB/T3859.2-2013半导体变流器通用要求和电网换相变流器第1-2部分：应用导则

GB/T3859.3-2013半导体变流器通用要求和电网换相变流器第1-3部分：变压器和电抗器

GB/T3859.4-2004半导体变流器包括直接直流变流器的半导体自换相变流器

GB/T4023-2015半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二*管

GB/T4326-2006非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T4376-1994半导体集成电路电压调整器系列和品种

GB/T4377-2018半导体集成电路电压调整器检测方法

GB/T4586-1994半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第7部分:双*型晶体管

GB/T4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

GB/T4728.5-2018电气简图用图形符号第5部分：半导体管和电子管

GB/T4937.1-2006半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则

GB/T4937.2-2006半导体器件机械和气候试验方法第2部分:低气压

GB/T4937.3-2012半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检

GB/T4937.4-2012半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)

GB/T4937.11-2018半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法

GB/T4937.12-2018半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

GB/T4937.13-2018半导体器件机械和气候试验方法第13部分：盐雾

GB/T4937.14-2018半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度(引线牢固性)

GB/T4937.15-2018半导体器件机械和气候试验方法第15部分：通孔安装器件的耐焊接热

GB/T4937.17-2018半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照

GB/T4937.18-2018半导体器件机械和气候试验方法第18部分：电离辐照(总剂量)

GB/T4937.19-2018半导体器件机械和气候试验方法第19部分：芯片剪切强度

检测流程

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